七大能力板块覆盖从低速IO到超高速串行总线的全场景SI测试需求。
| 接口品类 | 测试项目 | 覆盖范围 |
|---|---|---|
| USB系列 | USB2.0高速/全速/低速信号、接收灵敏度、Inrush、Drop&Droop;USB3.2 GEN1/GEN2 TX;RX合规、SJ/幅度裕量;Type-C PD3.0 | Host/Device双角色,Type-A/Type-C,5Gbps/10Gbps |
| PCIe系列 | TX信号测试、All Preset全预设遍历、链路TX EQ、RX合规、容限搜索、链路均衡 | Gen1.0–Gen5.0,X1–X16,标准PCIe/M.2/U.2/Mini PCIe |
| SATA/SAS | SATA1/2/3 TX、SATA3 RX;SAS3 TX/RX全链路 | 存储接口全速率 |
| DDR/存储 | DDR2–DDR5、LPDDR3/4信号测试;NOR/NAND Flash、eMMC、SDIO | 颗粒级/内存条级,2条/8条数据通道 |
| 显示接口 | HDMI1.4/2.0/2.1、DP1.2/1.4、Type-C DP1.4、eDP、MIPI D-phy、LVDS、VGA | DDC+阻抗+电容组合、板内非夹具测试 |
| 网络/光模块 | 10M/100M/1000M Base-T、2.5G/5G/10G Base-T、回波损耗、SFP+ 10G/25G、QSFP、RGMII | 以太网全速率、光接口物理层 |
| 低速/系统 | 时钟晶振、SMBus、I2C/I2S、SPI、LPC、UART、SIM卡、DMIC、TF卡、复位信号、电源时序 | 板级低速总线与时序验证 |
| 阻抗/PI配套 | PCB/FPC特性阻抗、表面绝缘阻抗、连接器接触阻抗、线材内阻、电源纹波、眼图分析 | 板级配套验证 |
测试方法与判定标准与行业协会官方认证体系对齐,数据可直接用于认证预测试。
USB-IF:USB 2.0 / USB 3.2 / Type-C / PD规范
PCI-SIG:PCIe物理层测试规范(Gen1–Gen5)
SATA-IO:SATA/SAS互操作与合规测试规范
HDMI协会:HDMI 1.4 / 2.0 / 2.1认证测试规范
VESA:DisplayPort / eDP显示接口标准
IEEE 802.3:以太网物理层标准
JEDEC:DDR / LPDDR存储接口标准
行业标杆级测试硬件,保障测试精度、重复性与数据权威性。
Tektronix DPO75902SX:高速数字示波器,高精度波形捕获与眼图分析
Tektronix DPO72304DX:高速数字示波器,多通道并行测试
Anritsu MP1900A:信号分析仪,RX误码率与容限搜索测试
配套高速探头、测试夹具与接口转换治具
六步闭环,从需求对接到售后支持全程可追溯。
1
提供产品型号、接口类型、测试项目与要求。
2
2小时内出具专属测试方案与报价明细。
3
寄送或现场送样,本地支持上门取件。
4
按标准规范开展,全程可追溯,支持现场见证。
5
正式电子/纸质报告,数据真实可追溯。
6
报告解读、技术答疑与优化建议。
客户高频问题汇总,助力快速决策。
信号完整性(Signal Integrity)测试是对高速电信号传输质量的量化检测,验证信号幅值、时序、抖动、眼图、阻抗等参数是否符合规范,排查反射、串扰、衰减、噪声问题,保障数据传输稳定可靠。
TX测试测量发射端输出信号质量是否符合标准;RX测试通过注入可控抖动、噪声与衰减,验证接收端在极限条件下的解码容限与误码率性能,是高速接口的高阶验证项。
支持PCIe Gen1.0–Gen5.0全代际测试,覆盖标准PCIe(X1/X4/X8/X16)、M.2、U.2、Mini PCIe,并支持板内Chip to Chip直连信号测试。
常规项目3-5个工作日出正式报告;项目多、复杂度高适当延长;支持加急服务,最快1-2工作日交付。
提供完整不合格数据与波形,技术工程师协助分析根因,给出PCB布局、参数调整等优化方向建议,助力快速整改。
严格遵循USB-IF、PCI-SIG、SATA-IO、HDMI协会、JEDEC、IEEE等官方规范,可作为认证预测试,有效提升正式认证通过率。
汽车材料零部件测试