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HAST高加速老化测试

高加速HAST测试全称为高加速应力测试(Highly Accelerated Stress Testing),是一种用于评估电子元器件(尤其是非气密封装器件)可靠性的加速老化测试方法。

什么是高加速HAST测试?

HAST测试通过在高温(通常110℃~130℃)、高湿(85%左右)和高压(如2~3个大气压)的环境下,对产品进行持续加电运行,从而在极短时间内模拟产品在长期使用过程中可能出现的老化、腐蚀、离子迁移等失效模式。它是传统“双85”(85℃/85%RH)测试的加速版本。

应用场景:

芯片封装厂:验证新型塑封料的防潮能力

汽车电子:确保ECU、传感器在发动机舱高温高湿环境下不失效

手机/可穿戴设备:测试内部PCB及IC的耐潮湿寿命

LED封装:评估环氧树脂或硅胶封装在湿热下的光衰与腐蚀情况

测试能力

参数Parameters

Unsaturated  

Saturated  

温度Temp.(℃)

105.0~162.2

105.0~151.1

相对湿度R.H.(%)

75~100  

100

压力Pressure(MPa)

0.020~0.392  

0.020~0.392

测试空间Interior Dimension(W*D*H)

255*255*318mm  

试样Test Samples

半导体、印刷电路板、连接器、模块、插座

参考标准Test Standards

IEC   60068-2-66, JESD22-A110, JIS C0096


汽车电子 | 半导体IC | LED封装 | 功率模块 | PCB/PCBA

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