高加速HAST测试全称为高加速应力测试(Highly Accelerated Stress Testing),是一种用于评估电子元器件(尤其是非气密封装器件)可靠性的加速老化测试方法。
什么是高加速HAST测试?
HAST测试通过在高温(通常110℃~130℃)、高湿(85%左右)和高压(如2~3个大气压)的环境下,对产品进行持续加电运行,从而在极短时间内模拟产品在长期使用过程中可能出现的老化、腐蚀、离子迁移等失效模式。它是传统“双85”(85℃/85%RH)测试的加速版本。
应用场景:
芯片封装厂:验证新型塑封料的防潮能力
汽车电子:确保ECU、传感器在发动机舱高温高湿环境下不失效
手机/可穿戴设备:测试内部PCB及IC的耐潮湿寿命
LED封装:评估环氧树脂或硅胶封装在湿热下的光衰与腐蚀情况
测试能力
参数Parameters | Unsaturated | Saturated |
温度Temp.(℃) | 105.0~162.2 | 105.0~151.1 |
相对湿度R.H.(%) | 75~100 | 100 |
压力Pressure(MPa) | 0.020~0.392 | 0.020~0.392 |
测试空间Interior Dimension(W*D*H) | 255*255*318mm | |
试样Test Samples | 半导体、印刷电路板、连接器、模块、插座 | |
参考标准Test Standards | IEC 60068-2-66, JESD22-A110, JIS C0096 | |
汽车电子 | 半导体IC | LED封装 | 功率模块 | PCB/PCBA
汽车材料零部件测试